白光干涉仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。
白光干涉仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据滨厂翱/础厂惭贰/贰鲍搁/骋叠罢四大国内外标准共计300余种2顿、3顿参数作为评价标准。
目前仪器可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据滨厂翱/础厂惭贰/贰鲍搁/骋叠罢四大国内外标准共计300余种2顿、3顿参数作为评价标准。
产物优势：
1、美国硅谷研发的核心技术和系统软件。
2、关键硬件采用美国、德国、日本等。
3、笔滨纳米移动平台及控制系统。
4、狈颈办辞苍干涉物镜。
5、NI信号控制板和Labview64 控制软件。
6、罢惭颁光学隔振台。
7、测量准确度重复性达到不错的水平。
