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Filmetrics F3-sX半导体薄膜测量仪可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均
更新时间：2024-11-26
型号：
厂商性质：代理商
浏览量：3932
Filmetrics F32薄膜厚度测量仪 使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。
更新时间：2024-11-09型号：厂商性质：代理商浏览量：3211
Filmetrics F60薄膜厚度测量仪 电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点，并在几秒钟内提供厚度测量。 选择数十种预定义的极坐标，矩形或线性地图模式中的一种，或创建自己的地图模式，不限制测量点的数量。 典型的49点图形大约需要45秒。
更新时间：2024-11-09型号：厂商性质：代理商浏览量：2236
Filmetrics F40薄膜厚度测量仪 产物能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米
更新时间：2024-11-09型号：厂商性质：代理商浏览量：2568
Filmetrics F54薄膜厚度测量仪能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米
更新时间：2024-11-26型号：厂商性质：代理商浏览量：3994
Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪 仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。
更新时间：2024-11-09型号：厂商性质：代理商浏览量：2574